**Die Geschichte der Softwarequalitätssicherung und Testabdeckung**
In dem Artikel "ソフトウェアテストそもそも話～グラフを見たら網羅せよ！（後編）" von 辰巳敬三 wird die Geschichte der Softwarequalitätssicherung und Testabdeckung beleuchtet. Dabei wird auf die Entwicklung von dynamischen Analyse-Systemen zur Messung der Testabdeckung eingegangen. In den 1970er Jahren begann die Entwicklung von Instrumentierungstechniken, um das interne Verhalten von Programmen während der Ausführung zu analysieren. Durch das Einfügen von Befehlen in den Quellcode können Informationen über den Prozess während der Ausführung erfasst und analysiert werden.
Ein wichtiger Aspekt der dynamischen Analyse war die Messung der Testabdeckung, um die Effektivität und Vollständigkeit der Tests zu bewerten. Durch die Ermittlung, welche Pfade im Programm während des Tests durchlaufen wurden, konnte die Testabdeckung gemessen und bewertet werden. Dieses Verfahren ermöglichte es, Lücken im Testprozess zu identifizieren und die Qualität des Programms zu verbessern.
Ein Meilenstein in der Entwicklung der dynamischen Analyse war das SNUPER COMPUTER System, das 1967 von Gerald Estrin und seinem Team an der UCLA entwickelt wurde. Dieses System war eines der ersten, das automatisch das Verhalten von Programmen während der Ausführung analysierte. Donald Knuth trug ebenfalls zur Entwicklung der dynamischen Analyse bei, indem er Fortran-Programme analysierte und zeigte, dass durch die Analyse von Ausführungsfrequenzen von Befehlen die Leistung verbessert werden konnte.
Die Einführung von verschiedenen Abdeckungskriterien wie TER, DD-Path und Level-i Path trugen dazu bei, die Testeffektivität zu bewerten und sicherzustellen, dass alle relevanten Teile des Programms getestet wurden. Diese Kriterien basierten auf der Struktur des Programms und teilten es in grundlegende Elemente auf, um die Testabdeckung zu messen.
In Bezug auf die Definition von Testabdeckungskriterien gab es in der Vergangenheit einige Verwirrung. Insbesondere die Unterscheidung zwischen C0, C1 und anderen Cx-Kriterien führte zu Missverständnissen. Die Arbeit von Boris Beizer und anderen Autoren trug dazu bei, Klarheit über die Definitionen zu schaffen und die Diskussionen zu vereinfachen.
In Japan begannen Unternehmen wie SRA und Hitachi in den späten 1970er und frühen 1980er Jahren, Testabdeckungsmessungen in ihre Testprozesse zu integrieren. Durch die Einführung von Tools und Techniken zur Messung der Testabdeckung konnten diese Unternehmen die Qualität ihrer Softwareprodukte verbessern und sicherstellen, dass ihre Systeme den Anforderungen entsprachen.
Quelle: https://www.veriserve.co.jp/helloqualityworld/media/20250827001/
